1 概述
2002年6月12日,科技部組織召開了863計(jì)劃“100nm分辨率193nm ArF準(zhǔn)分子激光器步進(jìn)掃描投影光刻機(jī)”重大項(xiàng)目的可行性論證會(huì),并通過(guò)了該重大項(xiàng)目。
100nm分辨率光刻機(jī)光學(xué)系統(tǒng)對(duì)溫度的要求十分嚴(yán)格,其最細(xì)的光刻線寬只有0.1μm,要保證這樣的線寬,除了嚴(yán)格控制工藝條件外,還要有嚴(yán)格的環(huán)境保證,要保證工作環(huán)境的溫度波動(dòng)在22℃左右極小的范圍內(nèi)。為了正確完成高精度控溫系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和制作,就要求高精度的溫度測(cè)量,從而測(cè)溫指標(biāo)要達(dá)到22℃±0.01℃的量級(jí),不確定度為0.003℃。因此,光刻機(jī)溫控系統(tǒng)具有非常高的溫度測(cè)量精度要求。
由于目前國(guó)內(nèi)尚沒(méi)有這樣高精密的測(cè)量?jī)x器,光刻機(jī)測(cè)溫系統(tǒng)只能采用國(guó)外技術(shù)和設(shè)備,如美國(guó)Hart公司1590高精度測(cè)溫儀。該測(cè)溫儀可以滿足精度要求,但存在很多致命的缺點(diǎn):
? 必須結(jié)合PC機(jī)和掃描儀才能使用,體積龐大,移動(dòng)不便;
? 成本高,儀器部分的價(jià)格就達(dá)26萬(wàn)元;
? 屬于進(jìn)口設(shè)備,購(gòu)買受到各種限制或存在不便;
? 應(yīng)用功能不能改動(dòng),無(wú)法靈活的滿足用戶的要求。
于是,制造一種體積小、功能齊全、安全性高、價(jià)格低的高精度測(cè)溫儀器的要求就應(yīng)運(yùn)而生。
2 高精度溫度測(cè)量的現(xiàn)狀
就溫度而言,對(duì)于在0℃時(shí)的SPRT,1ppm相當(dāng)于0.00025℃。不確定度逼近0.001℃或更好的溫度測(cè)量是一項(xiàng)極難克服的挑戰(zhàn)。電阻溫度測(cè)量中所固有的各種誤差源使得獲得這種準(zhǔn)確度十分困難。
盡管溫度測(cè)量?jī)x器已經(jīng)有了較長(zhǎng)時(shí)間的發(fā)展,測(cè)溫儀器的種類和測(cè)量方式十分廣泛,各種產(chǎn)品廣泛地應(yīng)用于各種各個(gè)行業(yè)。但是能夠測(cè)量精度達(dá)到ppm級(jí)的儀器,十分罕見。國(guó)外一些精度較高的儀器如上文所述,其價(jià)格昂貴、體積較大;國(guó)內(nèi)基本沒(méi)有如此高精度的測(cè)溫儀器。
本課題初步開發(fā)出了精度在5ppm以內(nèi),軟件功能基本較為健全的儀器。
3 儀器的整體結(jié)構(gòu)框架
數(shù)據(jù)采集板卡和繼電器控制板卡都是通過(guò)PCI總線和計(jì)算機(jī)進(jìn)行通訊,實(shí)現(xiàn)通道繼電器回路的通斷控制和通道的數(shù)據(jù)采集。恒溫腔部分十分關(guān)鍵,獨(dú)立成為一個(gè)系統(tǒng),其通訊由CPU的串口和PC機(jī)的串口進(jìn)行通訊。由應(yīng)用程序?qū)崿F(xiàn)整個(gè)系統(tǒng)溫度測(cè)量的控制。系統(tǒng)的整體框架圖如圖1所示。
圖1 系統(tǒng)整體框圖
本課題中所需的試驗(yàn)硬件設(shè)備為:
? NI4351板卡(DAQ),NI4351采用PCI總線技術(shù)與計(jì)算機(jī)通信,完成數(shù)據(jù)采集的功能。其中包含一個(gè)24bit的模數(shù)轉(zhuǎn)換器,可實(shí)現(xiàn)16通道的高速數(shù)據(jù)采集。內(nèi)嵌多路通道掃描開關(guān)以及1mA、25μA的恒流源。
? PC機(jī)
? 繼電器輸出板卡PCL735及附屬設(shè)備
? 恒溫腔及相關(guān)設(shè)備
? 參考電阻
? 測(cè)溫傳感器
? 帶10位AD的單片機(jī)CPU
? 恒溫電路及其他電路PCB板和相關(guān)設(shè)備
本課題采用Pt100作為測(cè)溫傳感器,其測(cè)量公式如下:
(1)
對(duì)于工業(yè)常用鉑電阻傳感器(W(100)=1.391),有:
A=3.96847×10-3/℃
B=-5.847×10-7/℃
C=-4.22×10-12/℃
因?yàn)楣饪虣C(jī)工作環(huán)境不會(huì)超過(guò)10~30℃,所以在軟件中計(jì)算溫度值時(shí),根據(jù)上式的第一個(gè)公式進(jìn)行計(jì)算,并舍去負(fù)值。
4 恒溫腔
4.1 恒溫腔結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
恒溫腔的作用在于為參考電阻提供一個(gè)溫度恒定在22±0.01℃的環(huán)境,穩(wěn)定的參考電阻在這種環(huán)境下,由式(1),可以消除恒流源漂移對(duì)測(cè)量準(zhǔn)確性的影響。
加熱棒以康銅絲纏繞,置于中心孔洞中,康銅絲長(zhǎng)度160mm,康銅絲的電阻率為50×10-3Ω/mm,因此可得總電阻為: (2)
采用直流5V電壓供電加熱,加熱功率為: (3)
下面分析加熱曲線特性。采集一組加熱的數(shù)據(jù),從開始加熱時(shí)采集數(shù)據(jù),到最后恒溫腔的溫度基本穩(wěn)定在50℃左右。對(duì)恒溫腔的特性進(jìn)行分析,得出恒溫系統(tǒng)是一個(gè)一階慣性系統(tǒng),其特性方程可由測(cè)量數(shù)據(jù)計(jì)算出。
4.2 恒溫腔溫度控制電路
恒溫腔的控制回路見下圖,由Pspice繪制,并經(jīng)過(guò)仿真。實(shí)際測(cè)試過(guò)程中,輸入的微小電壓改變,如1ppm的阻值變化引起的電壓變化,將準(zhǔn)確地反映在輸出端,由帶10位AD轉(zhuǎn)換器的CPU進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,并進(jìn)行恒溫控制。
通常情況下,本儀器工作光刻機(jī)系統(tǒng)中,而光刻機(jī)系統(tǒng)環(huán)境必須保證相對(duì)穩(wěn)定,因此,整個(gè)系統(tǒng)的溫度基本固定在22℃左右。恒溫腔設(shè)計(jì)時(shí),為了使恒溫腔的溫度控制不會(huì)受到環(huán)境溫度的影響,且又避免設(shè)計(jì)冷卻系統(tǒng),因此我們控制恒溫腔溫度為30±0.01℃,當(dāng)系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí),即加熱恒溫腔,使溫度逐步升至30℃,并穩(wěn)定在±0.01℃之間,實(shí)現(xiàn)恒溫的控制。恒溫腔溫度控制采用PID控制加鋸齒波整合的方法實(shí)現(xiàn)。即當(dāng)剛開始加熱時(shí),測(cè)量當(dāng)前溫度為T0,與標(biāo)準(zhǔn)溫度
30℃之差為△T,經(jīng)PID算法后得到控制量△P, (4)
由于沒(méi)有采用冷卻系統(tǒng),因此必須保證T始終小于30℃,即△T <0,△P始終小于0,如果以0為加熱器的開關(guān)參考標(biāo)準(zhǔn),則會(huì)產(chǎn)生極大過(guò)量增益,從而失去恒溫控制。為使加熱控制能達(dá)到無(wú)過(guò)量增益的效果,必須在溫度達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)溫度前就開始控制加熱的開關(guān)占空比。此處引入三角鋸齒波來(lái)對(duì)控制量△P進(jìn)行加權(quán),同時(shí)根據(jù)實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)總結(jié)出加熱開關(guān)控制點(diǎn),使最終恒溫腔的加熱控制在±0.1℃之間。
5 誤差源因素及措施
5.1 導(dǎo)線電阻
使用電子傳感器的測(cè)量可能會(huì)受到所在連接導(dǎo)線電阻的影響。在常用的2線或3線測(cè)量電路中,這些電阻及其變化可能引起0.1~1.0℃的誤差。
使用4線電路,可以完全消除導(dǎo)線電阻的影響。在這種設(shè)計(jì)中,傳感器由來(lái)自一組導(dǎo)線的電流驅(qū)動(dòng),所得的EMF(接觸電勢(shì))使用另一組導(dǎo)線進(jìn)行測(cè)量。信號(hào)被發(fā)送到一個(gè)具有極高輸入阻抗的放大器,使流入放大器的電流可以忽略不計(jì),在高導(dǎo)線電阻的情況下也可準(zhǔn)確地測(cè)量出傳感器電阻。
5.2 接觸電動(dòng)勢(shì)
電阻傳感器在不同的金屬導(dǎo)線之間有若干接點(diǎn)。這些接點(diǎn)可以產(chǎn)生接觸電動(dòng)勢(shì),可被看作熱電偶。除非為某種方式被抑制,這種熱電動(dòng)勢(shì)可以干擾傳感器電動(dòng)勢(shì),并使測(cè)量準(zhǔn)確度降低。
產(chǎn)生接觸電動(dòng)勢(shì)的原因主要是由于兩種不同的金屬導(dǎo)線焊接在一起而造成的,設(shè)計(jì)中,采用反向電流法來(lái)消除接觸電勢(shì)的影響。其原理如圖3所示。
每次測(cè)量包括兩次獨(dú)立的測(cè)量,第二次使電流反向通過(guò)傳感器,由于接觸電勢(shì)并不因?yàn)殡娏鞯姆聪蚨淖兎较颍虼丝傻茫?nbsp;
(5)
將兩式相減并取平均值即可消除接觸電勢(shì)ΔVcon對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響: (6)
進(jìn)行兩次對(duì)立測(cè)量,在第二次測(cè)量時(shí),只需將激勵(lì)電流進(jìn)行反相。接觸電動(dòng)勢(shì)引起的誤差在這兩次測(cè)量中是相反的。將這2次結(jié)果進(jìn)行平均就可以消除誤差。這種技術(shù)十分有效,它可消除來(lái)自接觸電動(dòng)勢(shì)的誤差,同時(shí)避免與交流有關(guān)的誤差。
圖3 反向電流法原理圖
5.3 電抗
使用交流激勵(lì)電源可在溫度測(cè)量中造成誤差,原因是傳感器經(jīng)常會(huì)表現(xiàn)出明顯的感抗和容抗。使用直流電路就不易受到電抗的影響。NI4351使用直流電路,因此不受電抗因素的影響。直流電路允許在開始測(cè)量一個(gè)樣值之前有足夠的時(shí)間使電流和電壓進(jìn)行穩(wěn)定。
5.4 泄漏
電阻傳感器易受周圍的絕緣材料的電泄漏的影響。泄漏通常在低溫時(shí)較為明顯,因?yàn)榻^緣層可以從空氣中吸收濕氣。另外在高溫下,由于絕緣材料的電導(dǎo)相對(duì)升高,這時(shí)的泄漏也很明顯。泄漏以及介電吸收和渦流等效應(yīng)在交流電路中比在直流電流中要顯著得多。通過(guò)直流激勵(lì)電源,NI4351可以在各種條件下獲得極佳的準(zhǔn)確度。
5.5 自熱
電阻測(cè)量中的另外一個(gè)問(wèn)題是自熱現(xiàn)象。自熱現(xiàn)象是由激勵(lì)電流施加到傳感器上散熱功率造成的。這會(huì)使得傳感器的溫度比正常高。NI4351通過(guò)使用小電流(1mA或25uA)將自熱效應(yīng)降低到最低來(lái)取得較高的準(zhǔn)確度。電流可在很寬的范圍內(nèi)、以極高的分辨率進(jìn)行設(shè)定。將電流設(shè)定到任意值就可以使自熱誤差得到控制、測(cè)量和消除。
5.6 部件漂移
典型電阻測(cè)量?jī)x器的準(zhǔn)確度受到電氣部件穩(wěn)定性的嚴(yán)重影響。為了有效消除板卡提供的恒流源漂移對(duì)測(cè)量的影響,采用參考電阻的方法。
鉑電阻為無(wú)源器件,必須提供激勵(lì)電流以產(chǎn)生可被DAQ板卡采樣的電壓信號(hào)。系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,利用NI-DAQ卡上的板載恒流源1mA或25uA,通過(guò)傳感器兩端,但由于板載恒流源的不穩(wěn)定性以及時(shí)間漂移,將造成測(cè)量精度的下降。
為此,引入?yún)⒖茧娮瑁潆娐穲D如圖4所示。
圖4 參考電阻電路
工作時(shí),首先使電流通過(guò)參考電阻Rf和傳感器RT,分別測(cè)得Vf1和VT1,然后將電流反向,測(cè)得Vf2和VT2,以消除接觸電勢(shì)的影響,假定恒流源Iexc在切換時(shí)間內(nèi)保持不變,則:(7)
(8)
兩式相比,可得:(9)
可見,電流的影響通過(guò)引入?yún)⒖茧娮瓒玫较?BR>
然而,由于參考電阻同樣會(huì)受到環(huán)境溫度的改變而發(fā)生阻值變化,因此采用穩(wěn)定度極高的參考電阻,如100Ω、 <10-5的錳銅線電阻,使之處于恒定溫度的環(huán)境(恒溫腔)中,期望其溫度在30 ± 0.1℃,以確保參考電阻阻值變化極小。
5.7 噪聲和分辨率
在任何測(cè)量電路中都會(huì)有噪聲的存在。過(guò)量的噪聲會(huì)使測(cè)量值隨時(shí)間隨機(jī)變化,這樣就很難檢測(cè)到被檢測(cè)參數(shù)的較小變化。過(guò)量的噪聲會(huì)限制測(cè)量?jī)x器的分辨率。
電氣噪聲來(lái)自多種地方。較小的噪聲由測(cè)量電路中的電阻和半導(dǎo)體器件產(chǎn)生。一些噪聲是ADC的有限分辨率造成的。來(lái)自內(nèi)部或外部的電氣或電磁干擾也可能引起噪聲。雖然不可能完全消除噪聲,但可以采取一些步驟來(lái)將其降低,如:使用低噪聲的部件,選擇有較高分辨率的ADC,使用屏蔽來(lái)阻止電磁干擾到達(dá)敏感電路。為了進(jìn)一步降低噪聲,還應(yīng)該在這個(gè)電路中使用濾波和電磁干擾抑制器件。CPU還可以使用數(shù)字濾波來(lái)除去大部分的剩余噪聲。使用數(shù)字濾波的一個(gè)缺點(diǎn)是它可能會(huì)使儀器對(duì)被測(cè)量電阻或溫度變化的反映較慢。
5.8 非線性度
將實(shí)際電阻比之間的曲線關(guān)系的彎曲部分視作非線性度。它們由數(shù)模轉(zhuǎn)換器以及電源和放大器造成。為了將非線性度降低至最低,采取一下3個(gè)步驟:首先,選擇可以獲得的最好部件,例如ADC為雙斜率積分型,它具有比其它精密積分或Σ-ΔADC至少好10倍的線性度。其次,所使用的測(cè)量技術(shù)本身可以抑制大部分的非線性度。由于相反極性的值平均,非線性度的零次誤差(即漂移)2次誤差和更高的偶次分量也被消除。剩下的3次和更高的奇次分量,次數(shù)越高其幅度就降得越多。再次就是對(duì)3次非線性度用數(shù)學(xué)方法進(jìn)行修正。ADC校正參數(shù)即用于此目的。
6 信號(hào)處理
6.1 均值的估計(jì)
將N個(gè)樣點(diǎn)數(shù)據(jù)的算術(shù)平均值作為均值的估計(jì) ,即(10)
設(shè),下面對(duì)該估計(jì)進(jìn)行質(zhì)量評(píng)估。估計(jì) 的數(shù)學(xué)期望為
(11)
6.2 樣本方差(12)
6.3 儀器系統(tǒng)分析
在進(jìn)行設(shè)計(jì)開發(fā)之前,首先需要了解NI4351恒流源和各個(gè)通道的穩(wěn)定狀況。這里利用后面編寫的程序,在一個(gè)測(cè)量通道上接入一個(gè) <10-5的錳銅電阻,對(duì)其提供NI4351板卡上的1mA電流源信號(hào),對(duì)在較短的時(shí)間內(nèi)測(cè)得的信號(hào)進(jìn)行分析,了解恒流源的值、漂移狀況、噪聲的性質(zhì),以便為消除噪聲信號(hào)采取措施。
把100Ω(實(shí)際99.998Ω), <10-5的錳銅電阻,由1mA電流源提供電流,按照4線制方式接在通道0上,在測(cè)得較短時(shí)間內(nèi)的一組288個(gè)信號(hào)后,然后利用Matlab對(duì)其進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
這個(gè)概率分布通過(guò)圖7可以近似為高斯分布,即數(shù)據(jù)在出現(xiàn)的概率上為高斯分布;而在頻率域由圖6可以看作均勻分布;圖5中可以看出,在相關(guān)域信號(hào)為脈沖信號(hào)。綜上所述,在加載1mA恒流源后,通道上的噪聲可以看作為高斯白噪聲。對(duì)25uA恒流源進(jìn)行上面3種分析,結(jié)果類似。
圖5 原始信號(hào)圖和自相關(guān)函數(shù)圖
圖6 原始信號(hào)圖和功率譜密度圖
圖7 分布概率分析圖
在上面的分析中可以看出在短時(shí)間內(nèi),測(cè)量穩(wěn)定性極好的電阻值,得到的測(cè)量中包含的噪聲是高斯白噪聲。從數(shù)據(jù)中又能夠看出,隨著采樣時(shí)間的加長(zhǎng),數(shù)據(jù)將會(huì)向一定的方向緩慢變化(上面使用的測(cè)量值是逐漸變大)。
因此,為了減小高斯白噪聲對(duì)測(cè)量精度的影響,對(duì)大量動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)窗的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均處理作為溫度顯示值。得到值的方差是直接采樣值方差的,測(cè)量效果將得到極大的提高。
如前文所述,要提高精度,需要對(duì)大量的動(dòng)態(tài)采集的數(shù)據(jù)組進(jìn)行平均處理。
對(duì)采集的動(dòng)態(tài)數(shù)據(jù)組進(jìn)行平均處理即是加矩形窗的過(guò)程,這里簡(jiǎn)單討論一下矩形窗對(duì)測(cè)量的影響。
設(shè)矩形窗時(shí)域表達(dá)式w(n)=RN(n),窗譜為:(13)
幅度函數(shù)為:(14)
主瓣寬度為,旁瓣寬度比主瓣低13dB,最小帶阻衰減21dB。
矩形窗使用最多,習(xí)慣上不加窗就是使信號(hào)通過(guò)了矩形窗。這種窗的優(yōu)點(diǎn)是主瓣比較集中,缺點(diǎn)是旁瓣較高,并有負(fù)旁瓣,導(dǎo)致變換中帶進(jìn)了高頻干擾和泄漏,甚至出現(xiàn)負(fù)譜現(xiàn)象
7 軟件設(shè)計(jì)
7.1 軟件總體功能模塊
首先介紹軟件的整體功能模塊,如圖8所示。
圖8 軟件的整體功能模塊圖
軟件的主要界面有:
? 主界面,即多通道循環(huán)采樣界面。在這個(gè)界面設(shè)置采樣的通道,參考電阻,系統(tǒng)密碼,并控制采樣的開始和停止。
? 波形顯示畫面,可顯示選中的通道的采樣數(shù)據(jù)波形和數(shù)值。
? 參數(shù)設(shè)置畫面,選擇通道的數(shù)據(jù)平滑時(shí)間和通道傳感器系數(shù)。
? 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)畫面,顯示正在采樣的通道的時(shí)間和數(shù)據(jù),以表格的形式顯示,指針始終指向最后一行。
? 系統(tǒng)處理畫面,選擇要保存數(shù)據(jù)的通道和要存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù),并保存到相應(yīng)的指定文件中。
? 輔助界面,選擇包括修改密碼畫面,退出系統(tǒng)畫面等多個(gè)界面。
7.2 繼電器掃描線路圖
所有的電阻包括參考電阻和所有通道上的溫度傳感器,都由NI4351板卡的1mA或25uA的恒流源電源進(jìn)行供電,繼電器采用研華公司的PCL735板卡,每個(gè)繼電器線圈都有一個(gè)常開和常閉觸點(diǎn)。接線圖如圖9所示。
圖9 繼電器控制圖
上圖中0,1,2,……11對(duì)應(yīng)的是研華PCL735繼電器板卡的12個(gè)通道。“0”~“7”對(duì)應(yīng)的8個(gè)傳感器通道,控制輸入到NI4351板卡0~7通道的輸入數(shù)據(jù),這8個(gè)通道采用常閉觸點(diǎn)。當(dāng)需要接通某個(gè)通道的傳感器時(shí),其相應(yīng)繼電器接通,其常閉觸點(diǎn)斷開,短路環(huán)隨即斷開,而不需要接通某個(gè)通道的傳感器時(shí),其相應(yīng)的繼電器斷開,其常閉觸點(diǎn)接通,從而斷開傳感器線路,即不測(cè)量相應(yīng)的通道的數(shù)據(jù)。
“8”和“9”用于控制數(shù)據(jù)循環(huán)采樣時(shí)電流的正反向切換,它們?yōu)?,即繼電器接通時(shí),正向電流接通;它們?yōu)?,即繼電器為0時(shí),反相電流接通。“10”和“11”用于切換參考電阻和電流源,它們?yōu)?時(shí),接通25uA的電流源,它們?yōu)?時(shí),接通1mA的電流源,這兩個(gè)通道采用常閉觸點(diǎn)。
7.3 數(shù)據(jù)采集流程圖(如圖10所示)
7.4 每個(gè)通道的數(shù)據(jù)采集處理
在循環(huán)數(shù)據(jù)采集過(guò)程中,第一個(gè)時(shí)間段采集的N個(gè)數(shù)據(jù)放在該通道的第一個(gè)數(shù)組中,第二個(gè)時(shí)間段采集的N個(gè)數(shù)據(jù)放在該通道的第二個(gè)數(shù)組中,以此類推,第M個(gè)時(shí)間段采集的N個(gè)數(shù)據(jù)放在該通道的第M個(gè)數(shù)組中。然后進(jìn)行復(fù)位,即在第M+1個(gè)時(shí)間段的數(shù)據(jù)放在第一個(gè)數(shù)組中,如此進(jìn)行循環(huán)。每個(gè)通道采集的數(shù)據(jù)共有M×N個(gè),然后進(jìn)行平均,得到的數(shù)據(jù)作為顯示值。
這種數(shù)據(jù)處理方式可以理解為在M個(gè)時(shí)間段中,采集的數(shù)據(jù)是一個(gè)動(dòng)態(tài)的數(shù)據(jù)流,當(dāng)前采集的數(shù)據(jù)在下一個(gè)時(shí)間段將流動(dòng)到下一個(gè)數(shù)據(jù)采集組,在第二個(gè)時(shí)間段流動(dòng)到倒數(shù)第二個(gè)數(shù)據(jù)采集組中,以此類推,而在第M個(gè)時(shí)間將流動(dòng)到倒數(shù)第一個(gè)數(shù)據(jù)采集組中,在第M+1個(gè)時(shí)間將流出,并丟棄。作為測(cè)量值的數(shù)據(jù)是當(dāng)前時(shí)間直至前M個(gè)時(shí)間的數(shù)據(jù)進(jìn)行平均得到的值。由于當(dāng)前的值和以前采集的數(shù)據(jù)將以此往下流動(dòng),得到的是一個(gè)實(shí)時(shí)更新的動(dòng)態(tài)的平均值。
圖10 數(shù)據(jù)采集流程圖
M和N的設(shè)置根據(jù)數(shù)據(jù)采集卡的特性和實(shí)際要求設(shè)置。N根據(jù)NI4351卡的特性設(shè)置為10。M根據(jù)用戶的實(shí)際要求設(shè)置,本課題默認(rèn)設(shè)置為20。
8 結(jié)論
在測(cè)試中,接入最小阻值變化為0.001Ω的電阻箱到任一通道時(shí),改變其輸入阻值,儀器可檢測(cè)出范圍0.001~0.004Ω左右的阻值變化,可見測(cè)量的分辨率已經(jīng)達(dá)到1ppm。
參考文獻(xiàn):
[1] 張剛毅,喬立巖. 虛擬儀器軟件開發(fā)環(huán)境-Labwindows/CVI 6.0編程指南[M]. 機(jī)械工業(yè)出版社,2002.
[2] 萬(wàn)輝. 基于PCI總線的高精度測(cè)溫儀―硬件研究[D]. 同濟(jì)大學(xué),2005.
[3] 姜華. 基于PCI總線的高精度測(cè)溫儀―軟件研究[D]. 同濟(jì)大學(xué),2005.